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首张钻石表面原子级高清图问世:东京大学团队揭开半导体材料新篇章

研之成理  · 公众号  · 科研  · 2025-02-01 16:15

正文

▲第一作者:张润楠
通讯作者:杉本宜昭
通讯单位:东京大学
论文DOI:10.1021/acs.nanolett.4c05395(点击文末「阅读原文」,直达链接)


  


全文速览
研究团队成功开发出一种利用原子间力显微镜(AFM)在原子尺度上观测钻石表面的方法。该技术首次实现了对钻石表面单个碳原子的可视化,为原子级别分析钻石开辟了新途径。



  


背景介绍
石因其高流子迁移率、高热导率和高绝缘击穿电场异特性,被视为终极半体材料,广泛用于力和量子器件。然而,在器件制造程中,尤其是微小器件,原子别的缺陷性能的影响不容忽。因此,提升器件性能需要对钻石表面行原子尺度的估。研究团队首次利用原子成功实现对钻石表面个碳原子的可化。一方法原子尺度的石分析开辟了新途径,未来有望在揭示石薄膜的生机制和提升石器件性能方面作出重大献。


  


本文亮点
研究团队在超高真空境下操作的原子AFM),成功可化了石表面个碳原子。产综研的等离子体化学气相沉CVD)技可在化的薄膜生条件下,制出原子平坦的石薄膜表面。本研究利用石(001)面作为样品,表面由成排列的碳原子成。由于成碳原子仅为1.39埃(1埃=10亿分之一米),个碳原子的可化一直是难题。此次,研究团队使用活性硅探针进AFM观测,将探与表面距离接近至数埃,成功观测个碳原子。通过该,研究团队还观察到了与石薄膜生和器件性能相关的原子缺陷,如空位等。为进一步揭示石表面个碳原子的可化机制,研究团队在物性研究所利用OpenMX行第一性原理算,发现的碳原子有与探形成化学的可能性。当硅探模型接近石表面模型,成功再实验检测到的碳原子信号


  


图文解析
石的构模型与AFM

(a)石(001)面的构模型。上图为从上方察表面构的模型,下图为察的构模型。黑色点表示最表面的碳原子,些碳原子形成了配以达到定状

(b)石(001)面的AFM像。中可清晰可个碳原子。在右上方可以察到一个碳原子缺失的空位(白色椭圆标记)。

用于第一性原理算的石(001)面和AFM探模型

该图显示了探尖端的硅原子与石表面碳原子之形成化学的情况。最表面的碳原子与从真空接近的原子生相互作用的区域用色表示(箭所示)。可以察到形成了斜向的化学


  


总结与展望
本研究成果原子尺度分析石表面提供了新方法,有望在揭示石薄膜的生机制和提升石器件性能方面作出重大献。例如,通分析不同条件下制石薄膜,研究其平坦性和缺陷分布,可明确制原子平坦且洁石薄膜的条件。此外,研究团队原子元素别方法也可用于分析石表面的掺杂剂杂质原子分布,从而估利用缺陷的量子器件并探索新功能。

参考文献:
【1】Giessibl, F. J. Atomic resolution of the silicon (111)-(7 × 7) surface by atomic force microscopy. Science 1995, 267, 68-71
【2】Hembacher, S.; Giessibl, F. J.; Mannhart, J. Force Microscopy with Light-Atom Probes. Science 2004, 305, 380-383.
【3】Gross, L.; Mohn, F.; Moll, N.; Schuler, B.; Criado, A.; Guitian, E.; Pena, D.; Gourdon, A.; Meyer, G. Bond-order discrimination by atomic force microscopy. Science 2012, 337, 1326-1329
【4】Bobrov, K.; Mayne, A. J.; Dujardin, G. Atomic-scale imaging of insulating diamond through resonant electron injection. Nature 2001, 413, 616-619
【5】Sugimoto, Y.; Pou, P.; Abe, M.; Jelinek, P.; Perez, R.; Morita, S.; Custance, O. Chemical identification of individual surface atoms by atomic force microscopy. Nature 2007, 446, 64-67.

其他日本新闻报道:
https://www.k.u-tokyo.ac.jp/information/category/press/11373.html
https://engineer.fabcross.jp/archeive/250110_u-tokyo-ac.html

  


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