干货下载 | 一切不以 PI 测试为基础的 SI 测试都是耍！流！氓！

高速数字电路电源完整性精确测量一直是个难题，以前大部分研发单位和公司并不进行这些电源完整性参数的测量。 但是，随着数字信号速率的不断提升，特别是提升到10Gbps以上数量级后，电源完整性的测量成为关键测试项目之一， 另外芯片和CPU的供电电平也越来越小，使得它对电平的变化更加敏感。

对于高速数字电路和系统，电源完整性(PI)的研究对象是电源分配网络PDN（PowerDistribution Network）。以笔记本电脑为例，AC到DC电源适配器供给计算机主板的是一个约16V的直流电源，主板上的电源分配网络要把这个16V直流电源变成各种电压的直流电源（如：±5V, +1.5V, +1.8V, +1.2V等），给CPU供电，给各个芯片供电。CPU和IC用电量很大，而且是动态耗电的，瞬时电流可能很大，大到几十甚至100多安培，也可能很小，小到低于1mA，但无论电流如何变化，电压必须平稳（即纹波和噪声必须较小），以保持CPU和IC的正常工作，这都对PDN提出了苛刻的要求。我们常见的电脑蓝屏现象，往往和电源完整性密切相关，传统的方案有很多局限性，我们希望随着Keysight的优异方案的普及，电脑蓝屏和其它电源完整性现象逐渐减少。

为此，是德科技(原安捷伦科技电子测试业务部)的技术工程师们把电源完整性测试系统的技术背景和方案配置和关键性能指标整理发布为《电源完整性测试白皮书》，欢迎大家下载查看。

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