随着微纳材料和半导体工艺的发展，AFM已广泛应用于各个领域。AFM除了能表征材料的形貌、厚度和粗糙度外，其很重要的特点是它可以超越形貌，表征材料的物理特性。

当采用AFM导电探针，可以实现在导电AFM（CAFM）、压电AFM（PFM）、静电力显微术（EFM）、开尔文力显微镜（KPFM）和扫描电容显微镜（SCM）等模式中表征材料的电学性质。AFM导电探针可以是针尖为全金属材料，也可以是针尖表面镀上导电涂层，从而测试样品的导电性、电势分布，压电/铁电特性等电学性质。

AFM探针是AFM测试准确的关键。AFM电学测试具有多种模式，每种模式所适合的探针也有所不同。选择合适的AFM电学探针，既可以延长探针的使用寿命，也可以获取更准确的电学测试结果。 为更好地服务广大客户及使用者，Oi Service直播讲堂特别邀请 牛津仪器客户服务部门消耗品应用工程师 李平 ， 于2024年6月12日下午15：00 就 如何选择合适的AFM电学探针 与观众交流 ，欢迎各位 扫描下方二维码或点击阅读原文 ，免费报名并预约！