CTO或增加ICD患者室性心律失常复发风险

　　尽管植入型心律转复除颤器（ICD）能为患者带来生存获益，但恰当及不恰当放电对患者预后有不良影响，可能会影响患者的生活质量并产生严重的心理影响。一项最新研究表明，冠状动脉慢性完全闭塞（CTO）可增加接受ICD治疗以预防心源性猝死患者室性心律失常的复发风险。

　　研究者菲律宾圣卡洛斯大学临床医院医院的Luis Nombela-Franco等对来自8家中心的425例因室性心律失常植入ICD行二级预防的患者，评估其冠状动脉造影、CTO造影特征及室性心律失常模式。中位随访4.1年发现，与不伴有CTO者相比，伴有CTO的患者恰当ICD治疗率更高（51.7% vs. 36.3%，P=0.001）。进一步分析显示，左室射血分数（LVEF）及CTO是恰当ICD治疗的独立预测因素，P分别为0.015和0.001。此外，在CTO患者中，室性心律失常的发生与耦联间隔较短及早搏指数较低具有相关性；除颤治疗与LVEF更差及肾脏功能障碍具有相关性（P分别为0.046和0.023）。另外，研究发现，肾功能较差、LVEF较低及伴有CTO的患者死亡率更高（P分别为0.029、0.041和0.033）。

　　英国圣乔治大学医院的VasimFarooq及荷兰鹿特丹大学的Patrick W. Serruys评论认为，该研究的重要发现在于“在缺血性心肌病患者中，CTO与威胁生命的心律失常具有独立性相关性”。其结果提示，通过侧支循环来维持心肌是不够的，CTO若不治疗可能会促进缺血驱动的恶性心律失常的发生，最终对长期死亡率产生不良影响。未来，有必要进一步探讨CTO血运重建对于特定高危患者预后的影响。