这些资料可以帮你快速提升测试测量技术和技能

需要测量新材料或新器件？轻松的系统搭建、更快地参数设置、以及内置测试库和学习工具，您将得到测试速度的全新体验。如下资料可以帮助你快速提升测试测量技术和技能。

半导体/材料相关I-V/C-V测量文章合集

• 《使用4200A-SCS参数分析仪测量碳纳米管晶体管的电气特点》

• 《使用4200A-SCS参数分析仪进行电荷泵测量》

• 《非易失性内存的脉冲I-V特性分析技术》

• 《使用4200A-SCS参数分析仪和四点共线探头测量半导体材料的电阻系数》

• 《使用4200A-SCS参数分析仪分析光伏材料和太阳能电池的电气特点》

• 《测量通道有效移动性的超快速单脉冲(UFSP)技术》

成功案例：伯克利国家实验室利用4200A-CVIV多开关使测试时间缩短30倍

只要参加就可以下载，同时有机会抽奖赢得奖励，及300信元论坛积分。

活动详情

时间：2017年6月1日~6月30日 

奖品包括

     1. 安卓/Apple 两用数据线  35条
          
  2. 《泰克最新2017~2018产品指南》  100本
       

参与方式 
1. 首先填写下面的活动登记表 (长按二维码)

2. 填写完后，点击提交，会在填表的下方出现 下载链接， 点击可下载资料

抽奖方式 
1. 非实时抽奖，需活动结束抽奖（由泰克负责抽奖） 
2. 本次奖品数量较多，所以中奖几率非常高。
3. 信元积分奖励，认真填写参与报名表之后，论坛活动帖回帖说明即可奖励300信元。

点击下方阅读原文，参加活动