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Nat. Mater:气-液-固-固法生长具有高空穴迁移率的二维非层状β-Bi₂O₃晶体

电子信息材料及器件  · 公众号  ·  · 2025-03-12 23:16

正文

摘要:

目前,p型二维(2D)材料在数量和性能上均落后于n型材料,这限制了其在先进p沟道晶体管和互补逻辑电路中的应用。非层状材料占据了95%的晶体结构,具有成为优异p型二维材料的潜力,但其合成仍面临挑战。在此研究中,展示了一种 在二氧化硅/硅(SiO₂/Si)衬底上通过气-液-固-固法生长的原子级薄(<1 nm)、高质量、非层状二维β-Bi₂O₃晶体。 这些晶体是通过从层状BiOCl中间体的转化形成的。进一步实现了二维β-Bi₂O₃晶体管,其 室温下的空穴迁移率为136.6 cm²·V⁻¹·s⁻¹,开关电流比为1.2×10⁸。 这种p型特性归因于晶体M点价带顶处Bi的6s²6p³与O的2p⁴之间的强亚轨道杂化。

实验方法:

1. 衬底预处理

使用的衬底为SiO₂/Si基底。

衬底首先在丙酮(≥99.95%)、异丙醇(99.97%)和去离子水中分别超声清洗10分钟。

然后将衬底浸泡在50°C的Piranha溶液中1小时,随后用去离子水冲洗并用氮气吹干。

2. 二维β-Bi₂O₃晶体的合成

设备:使用双温区CVD炉进行合成。

前驱体:将Bi₂O₃粉末(100 mg,纯度99.99%)和NaCl(0.5-3 mg,纯度99.99%)混合,放入氧化铝舟中,置于CVD炉的第一温区(温度T₁ = 850°C)。

衬底放置:将清洗后的SiO₂/Si衬底放置在第二温区(温度T₂ = 510°C),距离氧化铝舟15 cm。

气体流量:

第一阶段:使用Ar(100 sccm)和O₂(60 sccm)作为载气,持续42.5分钟,以创建富氧环境。

第二阶段:切换为Ar(140 sccm)和O₂(20 sccm)作为载气,持续30分钟,以创建相对缺氧环境。

沉积过程:加热速率为20°C/min,沉积时间为30分钟。沉积完成后,自然冷却至室温,整个过程保持在1.2 Torr的低压环境中。

3. 二维β-Bi₂O₃晶体的转移

清洗:将生长有二维β-Bi₂O₃的SiO₂/Si衬底浸泡在60°C的去离子水中40分钟,以去除残留的盐。

支撑层制备:在二维β-Bi₂O₃表面旋涂一层聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA,5%溶液),厚度约100 nm,用于支撑二维材料。

衬底蚀刻:将样品浸入1.5 mol/L的KOH溶液中4-6小时,蚀刻掉SiO₂层,使PMMA/β-Bi₂O₃层与衬底分离。

转移:将分离后的PMMA/β-Bi₂O₃层转移到铜网或α-Al₂O₃上,然后在60°C下烘焙20分钟,最后在室温下用丙酮去除PMMA层。

创新点:

1. 独特的合成方法:盐辅助化学气相沉积(CVD)与VLSS生长机制

创新点: 开发了一种盐辅助(NaCl)和氧气辅助的CVD方法,成功合成了高质量的二维非层状β-Bi₂O₃晶体。这种方法通过降低前驱体的熔点并促进其蒸发,解决了传统方法中难以合成二维非层状材料的问题。

VLSS生长机制: 首次揭示了二维β-Bi₂O₃晶体的气-液-固-固(VLSS)生长机制。这种机制涉及从多组分液滴到低熔点二维层状晶体(BiOCl)再到高熔点二维非层状晶体(β-Bi₂O₃)的独特相变过程,为二维非层状材料的合成提供了新的理论基础。

2. 二维非层状材料的特性突破

原子级厚度与高质量: 成功合成了厚度仅为0.3 nm和0.8 nm的二维β-Bi₂O₃晶体,表面粗糙度低(0.17 nm),与单层WS₂相当。这种高质量的表面显著减少了载流子散射,提升了材料的电学性能。

厚度依赖的带隙特性: 通过实验和DFT计算,发现二维β-Bi₂O₃的带隙随厚度变化,且在接近原子极限时仍保持间接带隙特性,这与部分二维层状材料的带隙演变趋势不同。

强轨道杂化与p型导电性: 揭示了二维β-Bi₂O₃的p型导电性源于Bi的6s²6p³与O的2p⁴在价带顶的强亚轨道杂化,为设计高性能p型二维材料提供了理论支持。

3. 高性能场效应晶体管(FET)器件

高空穴迁移率与高开关比: 基于二维β-Bi₂O₃的FET器件在室温下实现了136.6 cm²·V⁻¹·s⁻¹的空穴迁移率和1.2×10⁸的开关电流比,性能接近主流n型二维半导体(如MoS₂),显著优于其他p型二维材料。

优异的空气稳定性: 器件在未封装的情况下展现出长达20天的空气稳定性,这对于实际应用中的器件可靠性具有重要意义。







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