【大型仪器系列讲座】第十一期报名

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报名链接：https://www.sojump.hk/jq/14610952.aspx

二维码：

纳米材料表征 的主要目的是确定纳米材料的一些物理化学特性如形貌、尺寸、粒径、等电点、化学组成、晶型结构、禁带宽度和吸光特性等。

TEM： 透射电子显微镜 ，把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件）上显示出来。 分辨率为 0.1 ～ 0.2nm ，放大倍数为几 万～百万倍，用于观察超微结构，即小于 0.2 微米、光学显微镜下无 法看清的结构。

SEM： 扫描电子显微镜 ，利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像， 获取被测样品本身的各种物理、 化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构和电子结构等。

AFM ：原子力显微镜 ，利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体，也可以观察非导体，从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。

XRD ： X 射线衍射 ，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。

纳米粒度仪 ：用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布。纳米激光粒度仪，采用高速数字相关器和高性能光电倍增管作为核心器件，采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。

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