图1：HAADF-STEM图像及相应的 EDS结果。温度依赖性的磁化强度和交流磁化率结果。

图2：反常霍尔效应测试结构图及零场冷却 (ZFC) 和场冷 (FC) 后反常霍尔电阻的升温曲线。

图3：测试器件的等温剩磁反常霍尔电阻随时间 t 变化的曲线。

图4：温度和磁场扫描速度依赖性的反常霍尔效应 (AHE) 信号及交换偏置。

https://staging.pubs.acs.org/doi/10.1021/acs.nanolett.4c01031

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