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南京工业大学陈永华、晁凌锋EES全面解读:通过有机熔盐稳定掺杂Spiro-OMeTAD以实现高效稳定的钙钛矿太阳能电池

知光谷  · 公众号  ·  · 2024-10-31 07:54

正文

第一作者:潘腾飞

通讯作者:陈永华、晁凌锋

通讯单位:南京工业大学

研究亮点:

  1. 1. 对比有相同环己胺阳离子,不同阴离子的其他分子化学结构。

  2. 2. 使用有机熔盐环己胺三氟乙酸阻止Li + 扩散、抑制TBP挥发。

  3. 3. 提高空穴迁移率、优化能级、增强电荷提取能力。

  4. 一、Spiro-OMeTAD的稳定性受限

双(三氟甲烷)磺酰亚胺锂(LiTFSI)和4-叔丁基吡啶(TBP)掺杂2,2',7,7'-四(N,N二-对甲氧基苯胺)-9,9'-螺二芴(Spiro-OMeTAD)作为常用的空穴传输层,LiTFSI和TBP对于实现高效钙钛矿太阳能电池(PSC)至关重要,而研究证实,Li + 的迁移会降低器件的稳定性,而TBP作为腐蚀性溶剂会对钙钛矿层造成损害,进而影响器件的稳定性。因此,消除LiTFSI和TBP的负面影响,同时保持高效率和长期稳定势在必行。

二、成果简介

有鉴 于此,南京工业大学陈永华、晁凌锋团队 设计有机熔盐环己胺三氟乙酸(CYTFA)合成稳定掺杂的Spiro-OMeTAD。与传统LiTFSI/TBP掺杂的Spiro-OMeTAD相比,基于有机熔盐掺杂的Spiro-OMeTAD的空穴迁移率提高了一个数量级,同时相对于钙钛矿的能级上移了0.22 eV,使电荷提取和传输得到有效提升。最终在基于传统LiTFSI/TBP掺杂Spiro-OMeTAD的器件中实现了25.80%的高功率转换效率(PCE),并且具有良好的稳定性,可在500小时内保持96%和80%的初始效率,分别在55°C和55%湿度下运行470小时,在最大功率点(MPP)下运行 470小时。

三、结果与讨论

要点1:对比分析不同阴离子掺杂分子的化学结构

分子具有良好的离域度对溶液中的解离至关重要。首先作者对比了与CYTFA具有相同的环己胺阳离子,不同阴离子的两种分子——环己 胺氢碘化物(CYI)和环己胺乙酸(CYAc),阴离子不同表明离域程度不同。由于CYTFA、CYI和CYAc不溶于氯苯(CB),因此我们重点关注三种掺杂剂与CB溶液中的TBP和LiTFSI的相互作用,而不是Spiro-OMeTAD(图S3)。CYTFA和CYI可以完全溶解在TBP中,而CYAc不溶解,这表明由于CY + 和Ac - 之间的强静电效应,TBP和CYAc之间的相互作用较弱(图1a)。我们在CYTFA和CYI的质子核磁共振谱(1H NMR)上发现,CY + 上的活性氢峰分别从7.84 ppm移动到8.01ppm和7.67 ppm到7.76 ppm(图1b和S5),这表明当通过 N-H…N 氢键将 CYTFA和CYI添加到TBP时,发生了强相互作用,可能形成新的络合物,分别指CYTFA-TBP和CYI-TBP。这种相互作用在傅里叶变换红外(FTIR)光谱中得到进一步证实,在CYTFA和CYI体系中,TBP的C-N键分别从1655 cm -1 红移到1658 cm -1 和1659 cm -1 (图1c、S6),表明TBP上的C-N键被拉伸。进一步添加LiTFSI后,CYTFA和CYI发生了相同的效果,C-N键的峰移至1660 cm -1 ,表明C-N键的静电状态发生了改变。然而,CY + 上的活性氢峰值从8.01 ppm略微移动到CYTFA-TBP中的7.90 ppm,这可能是由于溶液环境的变化(图1b),而CYI-TBP的溶液环境变化更大,从7.76 ppm移动到7.35 ppm,进一步表明添加LiTFSI后,CYTFA-TBP中的氢键被破坏(图S5)。

图1 CYTFA、CYI 和 CYAc 的分子结构以及与 TBP 和TFSI 的化学相互作用

为了探索添加LiTFSI后CYTFA-TBP和CYI-TBP中氢键的行为,我们比较了Li + 与TFSI - 、TFA - 和I - 的结合能(图1d和S7)。对于CYI-TBP体系,虽然Li + 与I - 的结合能大于TFSI - ,但不足以捕获Li + ,这也与I - 在整个器件中的迁移有关(图S7和S8)。对于CYTFA-TBP体系,我们发现Li + 与TFA - 的结合能大于与TFSI - 的结合能,表明在LiTFA和TBP-CYTFSI的形成过程中内部发生了离子交换。这是因为CYTFA中的强吸电子-CF3官能团增加了分子的离域程度,导致CYTFA的离域程度更大。因此,我们得出结论,CYTFA的氢键影响TBP,导致TBP从Spiro-OMeTAD薄膜中缓慢而均匀地蒸发,而Li + 与TFA - 的结合变得更加稳定,抑制了Li + 在整个薄膜中的扩散。

要点2:CYTFA掺杂对薄膜形貌表征分析

从Spiro-OMeTAD薄膜的形貌来看,未掺杂CYTFA的Spiro-OMeTAD薄膜(表示Ctrl-Spiro),由于TBP的快速挥发,薄膜表面产生了许多孔洞(图2a),而掺杂CYTFA的Spiro-OMeTAD薄膜(表示CYTFA-Spiro)平坦且致密(图2b),这表明CYTFSI-TBP有效地延缓了TBP的挥发。

为了进一步证实LiTFA对Li + 扩散的抑制作用,我们使用Ctrl-Spiro和CYTFA-Spiro对器件进行了深度分析。从图 2d和S10可以看出,Ctrl-Spiro器件中Li + 从Au电极到SnO 2 层发生明显迁移,并在SnO 2 和钙钛矿层之间积累,这严重影响了界面处的电荷积累并产生滞后现象。相反的,在CYTFA-Spiro的器件中,Li + 主要均匀分布在Spiro-OMeTAD层和钙钛矿的上界面处,明显抑制了Li + 的迁移(图1e和S11)。由于Li + 不会在表面聚集,因此CYTFA-Spiro薄膜的结晶度相对于Ctrl-Spiro薄膜显著增强(图2f和2g),强度有三倍之高。

图2氧化22h后钙钛矿薄膜上涂覆的Ctrl-Spiro和CYTFA-Spiro薄膜的特性

要点3:传输特性和能级研究

在展示了CYTFA掺杂产生的高质量Spiro-OMeTAD薄膜后,我们开始研究其传输特性和能级。通过空间电荷限制电流方法,测得CYTFA-Spiro的空穴迁移率为1.16×10 -2 cm 2 /V·s,相对于Ctrl-Spiro的2.7×10 -3 cm 2 /V·s高一个数量级(图3a)。此外,费米能级从原来的-4.62 eV 降低到-4.87 eV(图S13),表明CYTFSI在TBP挥发后形成了P型掺杂。从图3b看出, Ctrl-Spiro的HOMO为-5.00 eV,而CYTFA-Spiro的HOMO为-5.22 eV,使得与钙钛矿层之间 达到更好的能级匹配,减少了电荷转移过程中的能量损失,并可能增加开路电压。

图3 Ctrl-Spiro 和CYTFA-Spiro薄膜的输运特性和能级

图4 设备性能







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