【讲座通知】XPS原理及应用（4月18日）

正文

为提高我校师生对 X 射线光电子能谱仪（ XPS ）的认知能力，了解其原理及在不同领域的应用，促进科学研究的开展，分析测试中心邀请葛青亲（赛默飞高级工程师）开展《 X 射线光电子能谱仪（ XPS ）的原理及应用》相关知识讲座。具体安排如下：

讲座题目 ： X 射线光电子能谱仪（ XPS ）的原理及应用

主 讲 人 ：葛青亲赛默飞高级工程师

讲座时间 ： 2018 年 4 月 18 号（周三）上午 9:30~11:30

讲座地点 ：北洋园校区第 50 教学楼 A 区 223 报告厅 （化工学院谢克昌报告厅）

内容简介 ：

1. XPS 表面分析技术原理和基本功能应用介绍；

2. XPS 图谱解析和基于 Avantage 的数据分析方法介绍。

主讲人简介 ：

葛青亲 博士， 2013 年毕业于复旦大学物理系凝聚态物理专业。博士期间从事复杂量子材料的光电子能谱研究。拥有丰富的电子能谱系统操作、搭建和光电子能谱数据处理经验，在谱图解析方面具有独到的见解。此次讲座中，葛青亲博士除对仪器的原理及应用进行介绍外，将从表面分析技术原理和图谱结构解析出发，和大家分享

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