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功率MOSFET栅极阈值电压测量方法和标准

面包板社区  · 公众号  ·  · 2024-06-04 20:00

正文

功率MOSFET 简介

功率MOSFET也叫功率MOS,我理解是这样一种MOSFET器件——为开关方式工作而设计,以导通和切断大的漏极电流为特征。开关方式的意思是其工作点在线性区(开)和截止区(关)之间转移,转移期间快速掠过饱和区。至于电流多大算大,并没有明确规定。我的做法是根据封装尺寸来估计。比如 SOT-23 封装如果处理100mA以上的电流,就算大电流。

功率MOSFET有两个重要的外特性:

第一,它类似一个机械开关或者机械继电器。它导通时的电阻可以低于1个毫欧,截止时的漏电流又可以低于100nA。因为功率MOSFET完全由半导体材料制造,内部没有继电器和开关那样的导电臂、触点、弹簧和保持线圈,所以功率MOSFET也被称为固态(Solid State)开关和固态继电器。

第二,和机械开关、机械继电器相比,功率MOSFET工作速度快。功率MOSFET的芯片/晶胞有特殊设计的结构:和普通MOSFET相比,其放大区较窄,这样允许其工作点在截止区和线性区之间更快地度越,所以其动作速度/频率远超机械元件。

基于这两个特点,功率MOSFET在三个领域有广泛应用:

1. 开关电源(SMPS, Switching Mode Power Supply)。

2. 电动机驱动(Torque Motor Driving)。交替地、重复地切断和接通电感线圈的电流,利用电能和磁能的相互转换,通过特殊设计的电动机结构,把电能转换为机械运动的动能,或者反过来把动能转化为电能。这个方面据说支配了人类总发电量的40~60%。

3. 继电保护。除了前面提到的固态继电器,还出现了固态保险丝(eFuse)器件。

针对不同的用途,功率MOSFET也发展出不同的内部结构来不断适应。在低压应用中(20~200V),SGT(Seperated Gate Trench,分离栅沟槽型)结构是主力;高压应用中(500~1200V),SuperJunction(超级结)结构优势突出。

根据衬底材料不同,功率MOSFET可以分为2类——硅基,碳化硅(Silicon Carbide),分别称为功率MOS和碳化硅MOS。


功率MOSFET 栅极阈值电压Vgs-th

栅极阈值电压是功率MOSFET器件的静态参数之一,简称为 Vgs-th,其中gs表示从Gate到Source,th表示threshold。

对于增强型MOSFET,可以用下图来说明 Vgs 的作用。短接D极和S极,调节G极对S极的电压 Vgs。当Vgs较低时,栅极附近因为存在耗尽层,不能形成导电通道,见下图(a)。如果逐渐增大Vgs,正电荷推挤衬底内的空穴,吸引自由电子,就会形成导电沟道(Channel)。继续增大Vgs,沟道会变宽,意味着更低的电阻,更好的导电性,见下图(b)。继续增大Vgs,沟道的宽度继续增加但趋于极限,不再显著加宽。此时如果仍然增大Vgs,栅极和衬底之间的绝缘介质就会发生雪崩击穿,器件很可能永久性损坏。

(图来自 童诗白.模拟电子技术基础.高等教育出版社.2006)

Vgs-th 是MOSFET截止区和饱和区的分界线。电压低于Vgs-th时,MOSFET关断;超过Vgs-th时,MOSFET开始接通。

感性负载开关应用中有危险的感应导通现象。对感性负载开关类应用,比如开关电源和电机驱动,功率MOSFE的漏极与电感器、变压器线圈连接。当功率MOSFET截止切断电感电流时,电感会产生脉冲形式的感应电压叠加在电源电压之上。该电压的高频分量会通过结电容Cdg或Crss,施加到栅极(也可以从功率MOSFET内等效三极管的模型解释),如果电压高于Vgs-th,那么功率MOSFET将离开截止区,进入饱和区。饱和区的等效Rds-on较大,导通功耗也大,容易导致功率MOSFET功率EOS失效,即所谓“炸管”。

另外,将多个MOSFET并联使用时,有必要挑选那些Vgs-th相近的组成一组,避免在栅极电压变化的过程中,有的先开通或者先关闭,形成电流/功耗集中而导致失效。


功率MOSFET栅极阈值电压测量方法和标准


Vgs-th 的测量方法据我所知有两种——D-G短路法,IEC方法。

两种方法测量结果不一样,IEC方法的测量结果会较低,但也更符合实际应用场景。我推荐用IEC方法。

1. D-G短路法

用这个方法测量时,先短接晶体管的漏极和栅极,再在栅极施加电压 Vgs 并从小到大逐渐变化。同时,检测流入漏极的电流 Id。当漏极电流达到预先设定的值时,记录当时的 Vgs,即为测量结果。

一些Curve Tracer(晶体管特性图示仪)使用这种方法。可惜我没有找到图示仪的电路图,从某个测试设备手册中借一个示意图来说明。
采用这个方法测量的厂家较多,欧洲的Infineon和STmicro,美国的AOS、Vishay,我国的杭州士兰、无锡新洁能、南通捷捷等,都用这个方法,谁抄的谁已经看不出来了。

2. IEC方法

IEC方法准确说是 IEC60747-8 定义的方法。我没有IEC60747-8的标准,只找到IEC60747-9。虽然-9针对IGBT,但这个参数的测量电路其实也可以用于功率MOSFET,借图如下。
IEC60747-8 被采纳为 GB/T 4586,后者比较容易找到。

另外,这个图和 MIL-STD-750E-3 Method 3404 是一样的。
(插图来自MIL-STD-750E-3)
最后简单介绍 Curve Tracer。

它是一种手工操作的测试仪器,内部有2个源表,可以采用步进扫描的方式控制输出电压和电流,既可以“加压测流”,也可以“加流测压”,因此可以对一个PN结和2个PN结的器件进行各种测试。目前在工厂来料检验、失效分析等场合仍然有需求。

早期半导体行业中心还在美国的时候,泰克(Tektronix)曾推出了几种畅销的Curve Tracer,例如 576型。半导体行业扩展到日本,索尼(SONY)和泰克共同开发了 370型。
(图片来自 Textronix 官网)

Ref:
GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
MIL-STD-750E-3 Transistor Electrical Test Methods for Semiconductor Devices Part 3
AN-957. Measuring Power MOSFET Characteristics. Vishay. 2010
作者:面包板社区博主 电子知识打边炉


END

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