精品资料|半导体器件特性、非易失性内存的脉冲I-V特性分析、IC测试方案

泰克资料有奖下载我们已经开展了好几期了，由于资料确实很棒，每一期都会吸引很多网友参加，本期（17-7月）我们继续为大家提供高质量的相关资料，只要参加就可以下载，同时有机会抽奖赢得奖励，及300信元论坛积分。

本期资料包括：

1. 如何解决决半导体器件特性分析中的诸多挑战
主要内容包括：

·   对先进的相变存储器器件进行特性分析

·   对CMOS晶体管的偏压温度不稳定性的建模和监测

·   用极低频C-V测量对器件进行分析

·   让您的实验室测量具备晶圆级自动化水平

·   高速度、高完整性开关

2. 非易失性内存的脉冲I-V特性分析技术

此应用指南回顾了非易失性内存(NVM)的发展历史，介绍了分析NVM材料和器件电气特点所需的测试参数，阐述了如何使用仪器解决超快速测试的挑战。

3. 泰克IC测试方案介绍
    从晶圆到系统，全面专业测试方案

o 材料及工业测试平台

o  芯片设计测试验证平台

奖品包括

1. 组合工具箱  30个

 
  2. 《泰克最新2017~2018产品指南》  100本
       

参与方式 
1. 首先填写下面的活动登记表 (长按二维码)

2. 填写完后，点击提交，会在填表的下方出现 下载链接， 点击可下载资料

抽奖方式 
1. 非实时抽奖，需活动结束抽奖（由泰克负责抽奖） 
2. 本次奖品数量较多，所以中奖几率非常高。
3. 信元积分奖励，认真填写参与报名表之后，论坛活动帖回帖说明即可奖励300信元。

点击下方阅读原文，参加活动