作为硬件工程师,不管做什么产品,一般都会用类似下面的
PMOS
开关电路,而且一般用做电源控制。
这个电路看着比较简单,但是呢,在实际应用中,稍不注意的话,
可能会出现下面的几个问题
:
1
、
PMOS
开关开启的一瞬间,前级电源电压跌落,或者直接被拉死
2
、
PMOS
开关开启的一瞬间,
MOS
管冲击电流太大,
MOS
管损坏
3
、
PMOS
开关由开启变为断开时,输出端
Vout
电压先降低,后上升,然后再下降,即下电波形出现回沟
下面就来说明下这些问题是如何产生的,以及如何解决。
为了照顾下刚入门的同学,还是先来解释下电路的工作原理,以及各个器件的作用
1
、当控制信号
PWR_EN
为高时,三极管
Q1
导通,
R2
下端等于接
GND
。由于
R1
和
R2
的分压作用,
MOS
管
M1
的
Vgs
会有压差
Vgs=-Vin*R1/(R 1+R2)
,即
M1
最终会导通。
2
、当控制信号
PWR_EN
为低时,三极管
Q1
不导通,那么
R2
下端相当于悬空。那么
MOS
管
M1
的栅极会被
R1
拉到和输入电压
Vin
一样,即
Vgs=0
,那么
M1
最终状态会是不导通。
所以说,我们通过控制
PWR_EN
的高低,就能够控制
PMOS M1
的导通和关断,这也就是这个电路的基本原理。
如
上
图所示,各个器件的作用应该都说清楚了吧,我们继续看前面提到的实际应用中,我们可能会遇到的几个问题。
1
、
PMOS
开关开启的一瞬间,前级电源电压跌落,或者直接被拉死
我们把这个电路做一个仿真,加上输入
20V
电压,电源内阻
100m
Ω,负载
10
Ω,负载滤波电容
1000uF
,
PMOS
开通的瞬间
Vin
波形如下图(实验
1
):
可以看到,
输入端
Vin
电源
20V
,在
PMOS
开启的时候,瞬间被拉到了
11.8V
。
道理其实很简单,
Vout
网络接了一个很大的电容
1000uF
,开关打开的时候,输出电压
Vout
从
0V
要上涨到
20V
,这个电容有就要从
0V
被充电到
20V
。如果开关的时间比较短,充电的电流就会比较大。
这一点也比较容易理解,电容从
0V
到
20V
,被充入的电荷量
Q=C*U
,如果开关的时间是
t
,那么平均充电电流就是
I=Q/t=C*U/t
,电容量
C
是已知的,为
1000uF
,电压
U=20V
,所以说这个
充电电流
I=1000uF*20V/t
就反比于开关的开通时间
。
那充电电流大为啥输入电压就会跌落呢?
我们要知道这
个充电电流来源于源端,也就是电压源
V2
,我们联想下
,
工作中实际的电路,源端电源肯定不是理想的电源,总会有内阻,或者说线路上总会有阻抗,电流一大,必然会有压降,这个压降就会造成电压跌落。
需要注意,我仿真的时候,给电压源
V2
的内阻就是
100m
Ω
,这也是为了模拟真实的场景,同时呢,也只有这样才能看到电源
Vin
有跌落的情况。如果不设定内阻,电源源
V2
是理想电压源,那么肯定是看不到电源跌落的。
很容易想到,如果我们把这个内阻设得大些,那么跌落得肯定更多。
我们试一下,将内阻
Rser
从
50m
Ω,
100m
Ω,
200m
Ω,
500m
Ω做一个对比,一起看看跌落的情况。如下图(实验
2
),可以看到,
50m
Ω时,电压
Vin
只跌落到了
15V
左右,没有像
100m
Ω是跌到了
11.8V
这么多,而
500m
Ω时电压已经跌落到了
6V
左右。
前面说到,电容平均充电电流是
I=Q/t=C*U/t
,
C
是负载的电容量,也就是说
C
越大
,那么平均充电电流越大,源端内阻上的压降也越大,即
电压跌落也会越大
。
我们也可以仿真来验证下,我们设定
V2
的内阻为
100m
Ω不变,负载端电容分别是
100uF
,
1000uF
,
10000uF
,结果如下图(实验
3
)
可以看到,确实与我们的分析是一致的,
100uF
的时候,电压只跌落到了
16.5V
,相对于
1000uF
的
11.8V
,还是要小不少的。
由以上可以知道,
负载端电容量越大,是越容易发生电源跌落的情况的
。但是呢?有时候我们的
负载就是需要那么大的电容,那怎么办呢?
其实我们还可以调整开关的速度,我们可以通过调整
R1
,
R2
,
C1
的大小,来调整
PMOS
开关开通的时间。
根据前面的公式,
I=Q/t=C*U/t
,如果负载电容
C
固定了,电压
U
也确定了,我们可以通过调整电路,增大开关的开通时间
t
,也能降低充电电流的大小,最终也可以让电源跌落更小。
还是来仿真下,我们保持电源内阻为
100m
Ω,滤波电容为
1000uF
不变,
R1
,
R2
保持
10K
不变。然后让开关
MOS
的
gs
之间的跨接电容分别为
100nF
,
470nF
,
1uF
,
4.7uF
,对比波形如下图(实验
4
)
可以看到,
100nF
时跌落最多,跌到了
11.8V
,而
4.7uF
的时候,跌落是最小的,另外一方面,我们也可以看到下冲的宽度,
100nF
时,宽度是最小的,说明此时开通速度最快。
我们保持电源内阻为
100m
Ω,滤波电容为
1000uF
不变,
gs
跨接电容为
100nF
不变,单独调整下
R1
和
R2
,让其分别等于
10K
,
47K
,
100k
,
470k
,看下效果,仿真如下图(实验
5
)
可以看到,效果和调节
gs
之间的电容差不多,在电阻调整到
470k
之后,输入端电压跌落已经比较小了。
好了,相信到这里,你应该已经知道了为什么
PMOS
开启的时候,输入电压有跌落了,以及出现这种情况之后,我们只需要调整
R1
,
R2
,
Cgs
就好了。
需要注意的是,以上只是为了简单说明道理,实际电路应用过程中要更为复杂
。比如说我仿真内阻都是用的
100m
Ω,实际电路中电路不仅仅有内阻,还有电感,这些都会造成输入端有压降,但是另外一方面,输入端也会有电容,开通瞬间,输入端的电容也会给负载电容提供电流,最终跌落可能也不明显。有时呢,输入源端可能有限流保护,如果开通瞬间拉取电流过大,那么会造成前级过流保护,导致电源被拉死,这些都需要具体情况具体分析。
好了,关于这个跌落的问题就说到这里了,下面继续其他问题。
2
、
PMOS
开关开启的一瞬间,
PMOS
烧毁
提到
MOS
烧毁,一般来说,就是其非工作在
SOA
区(安全工作区,
Safe operating area
)。
显然,在这个场景,容易出现的就是
MOS
管过流了。我们还是以上面的仿真电路为例子,看下导通时
MOS
管的电流情况。
仿真条件:
PMOS
型号为
SI4425
,电压源
V2=20V
,内阻
=100m
Ω,负载电容
1000uF
,
R1=R2=10k
,
gs
端跨接电容
100nF
。
可以看到,
MOS
管瞬间最大电流已经达到了
80A+
,这个电流太大了,
MOS
管有风险,为什么这么说呢?我们可以看下使用
PMOS
管
SI4425
的手册,可以看到,其最大允许的电流是
50A
。
此时,这个
PMOS
超规格使用了,并没有工作在
SOA
区间,是可能会损坏的。
那怎么办呢?
选更高电流的
PMOS
吗?当然,这是一个可选的方案,不过呢,电流更高的
PMOS
价格肯定会更高的。此时我们可以调节下外围电阻或是电容,让
PMOS
更慢开通,这样可以将电流降下来。
按照前面说的,我们可以调整
R1
,
R2
,
C2
(
gs
间跨接电容)达到这个目的。我们将
gs
间跨接电容分别调至
470nF
,
1uF
,
4.7uF
,对比看看电流的情况,如下图(实验
7
)。
可以看到,在
Cgs=1uF
的时候,此时
Ids
最大只有
40A
,而
PMOS SI4425
最大瞬间电流可以过
50A
,仅从电流
Ids
来考虑,是
OK
的,并且满足
80%
的降额(
50A*0.8=40A
)。
假如我们选定
Cgs=1uF
,我们还需要看下
此时的功率是否有超标(结合
SOA
曲线看)
,从曲线上看,
MOS
管开通时间约为
1ms
,这
期间最大功率约为
280W
,如下图。
假设这个
PMOS
应用场景是单脉冲(即非周期性开通,只是偶尔开通一次),从手册看到其
1ms
时归一化热阻系数
r(t)=0.007
。
芯片正常热阻是
Rja=50
℃
/W
,最高结温是
150
℃,假设环境温度是
25
℃,那么其
1ms
能抗的瞬间功率是
:
Pmax={(150
℃
-25
℃
)/Rja}/r(t)=
357W
即
PMOS SI4425
在
1ms
瞬间能扛的功率是
357W
,而将
Cgs
电容调整到了
1uF
之后,实际功率是
280W
,因此并没有超过
PMOS
的功率限制,也即是说其工作在了
SOA
区,是
OK
的。
综上所述,在
Cgs
是
100nF
的时候,
PMOS
没有工作在
SOA
区,而我们调整
Cgs
电容到
1uF
之后,
PMOS
就能工作在
SOA
区,因此就不会出现损坏的问题了。
以上是从仿真的角度看
PMOS
有没有损坏的风险。实际在我们电路应用中,对于这种功率
PMOS
做开关,
我们一般也是要去测量
PMOS
开通时的电压和电流曲线,以此来判断是否是安全的
。
再来说一个我曾经遇到过的奇特现象,也就是第
3
个问题。
3
、
PMOS
开关由开启变为断开后,输出端
Vout
电压先降低,后上升,然后再下降,即下电波形出现回沟
先看下这是个什么现象,如下图,在
PMOS
断开的时候,输出电压
Vout
出现回沟
相对于前面的
PMOS
开关仿真电路,其实没有差异,仅仅是我将
负载换成了一个开关电路
而已,
那为什么改变了负载之后,
Vout
的下电波形就不正常了呢?遇到这种情况我们该如何调整呢?
原因其实也不难理解,就是
PMOS
从导通到关断,总有一个过程,
PMOS
的阻抗会从接近于
0
(导通)到电阻无穷大(断开),也就是说存在一段时间,
PMOS
的会有一定的阻值,而负载也非恒定电阻。在
Vout
下电过程中,负载获得的电压下降到一定程度,负载电路可能因为欠压突然停止工作,其所需电流急剧减小,即其等效电阻突然变大,那么会导致其获得的分压变大,这个时候就会出现上面的情况,
Vout
电压又涨上去了。
上面的过程简单画个示意图如下所示:
Vout
的电压等于
Vin
在
PMOS
和负载上面的分压,如果负载
RL
突然变大,那么就有可能出现
Vout
突然上涨的情况。
经过上面的分析,应该很容易想到,出现回沟的地方,应该就是
PMOS
从导通到关断切换的时刻,也就是
PMOS
的
Vgs
电压等于其
Vgsth
的时候,关于这一点,我们也可以从仿真波形中看出,如下图所示。
回沟出现的地方,就是
PMOS
的
Vgs=-1V
的时候,我们可以从
SI4425
手册中看到,该
PMOS
的
Vgsth
就是
-1V~-3V
,印证我们前面的分析没毛病。
很多时候,我们让这个
PMOS
更快的关闭就能解决了,比如我们将
PMOS
的
g
和
s
跨接的电容从
100nF
调整到
10nF
,可以看到回沟基本没有了(只有
500mV
左右,实际电路一般不影响使用),如下图所示(实验
9
)
我们也可以在输出端加一个滤波电容,这样可以
避免负载等效
RL
突然变大
。
这个原理是这样的:
加了滤波电容后,等效负载就变成了原本的
RL
和新加的电容阻抗的并联,所以哪怕原本的
RL
突然变得很大,因为有电容阻抗的存在,总的负载阻抗也不会变得很大(不会超过电容的阻抗)。我们现在讨论的是
pmos
关断的瞬间,这个过程是短暂的,信号可以看成是交流,因此电容不可看成是开路,它也构成了总的阻抗的一部分。所以,只要电容值合理,是可以解决电容回沟的问题的。
印证下,我们在上面的电路的
负载端加一个
1uF
的滤波电容
,仿真如下(实验
10
)
可以看到,
Vout
此时完全没有回沟了,下电波形非常好。
本期内容就写到这里了,可以看到,小小的
PMOS
电路,其门道也是不少的,毕竟我们都没有办法固定一个电路去适应所有的应用场景。一个电路,可能用在这个场景没问题,用在其他场景就出问题了。当然,这也并不可怕,我们只需要理解问题的原因是什么,结合测试,根据波形,不断分析优化,也就能设计出安全可靠的电路了。