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电子设备不合格？那是因为你缺少一款高大上的检测工具

芯师爷 · 公众号 · · 2017-11-18 14:09

正文

我们总是与一个伪规律心照不宣，

那就是生活节奏越来越快，

世界变的越来越热。

怎么解决由热带来的问题呢？

我们开启今天的话题。

在金字塔顶端的科研或者产品测试领域

一群高大上的人才正在被"热"困扰着

只不过这种热不是太阳的缘故，

而是由产品变更引起的。

为了追求高性能、高速度、高便捷，

电子元件速度越来越快、体积越来越小，

皮秒（万亿分之一秒）级精度成了新指标，

但这也意味着零件会发热，

零部件会出现 短路或者受损 的情况。

所以检测这些受损部件成为了一种挑战。

这可咋办啊，

产品研发和测试 环节可是源头啊

如果源头都出问题，

产品还怎么用啊。

世上总是有知心人，

菲力尔切中需求痛点，

推出了 首款专为实验室而设计 的，

FLIR ETS320™红外热成像仪 。

这款红外热像仪 专门针对在实验室环境下 进行电子元件和印刷电路板（PCB）热特性测试与分析而设计，可以提高电子产品行业的测试和诊断精度，帮助工程师和测试技术员在数秒钟内 收集精确、可靠的热数据并执行分析 ，轻松检测出哪些部件受损。

我们从不吹牛，只用事实说话， 下面带你看看

FLIR ETS320™ 的本领：

本领一

去除"繁文缛节"，直奔热点

FLIR ETS320™具有 非接触式温度测量和即时热点检测 等优点，可摒除热测试中的猜测成分，检测到细微温度变化（< 0.06°C）和量程高达250°C的热生成；无需像使用热电偶和RTD（电阻式温度检测器）测量那样进行热点位置估算，省去检测中的那些不必要环节，可以 快速发现热点和潜在故障点，节省大量时间 。

本领二

撒下天罗地网，分分钟锁定目标

FLIR ETS320™配置320*240像素的红外传感器，可以提供 76800点的温度测量，同时具有真45°视场角， 可进行范围较广的初次扫描 ，真可谓是天罗地网，检测人员可以分分钟锁定热点，让其无所遁形，无需担心藏于暗处的散热器。 温度测量精度更是高达±3°C ，可测量小至170 μm/像素点尺寸的部件，可以确保产品达到质量保证和工厂验收标准。

本领三

小平台设计，解放了人的双手

FLIR ETS320™采用 恒定的非接触式热测试方法 ，将高灵敏度热像仪与可调节的免手持式实验台架相结合，使测试目标稳定地固定在检测仪表下，提供固定、恒定的焦距、 不会摇晃和振动 ，解放了人的双手。在检测时，可以通过拉近镜头对较小的部件进行成像，或者拉远镜头将整个电路板纳入视野，适应了电子元件越来越快，越来越小的检测新要求。

借助 一体式测试台和滑动架 ，该热像仪系统达到了 最佳的灵活性 ，能够对各种印刷电路板或电子设备进行成像。

本领四

电子设备不合格？那是因为你缺少一款高大上的检测工具

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