专栏名称: 第三代半导体产业联盟
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【会员动态】用“芯”驱动未来:中车时代半导体推出适用于轨道交通牵引变流器系统的3300V\/500A SiC混合模块

第三代半导体产业联盟  · 公众号  ·  · 2018-04-03 17:26

正文

当今现代电力电子应用领域,随着高频,高压,高效,小型化的应用需求,Si基功率半导体器件已经不能满足,SiC材料具有击穿电场强度高、热稳定性好、载流子饱和漂移速度高、热传导率高等特点,SiC功率半导体器件将逐成为主流应用的开关器件。

中车时代半导体推出适用于轨道交通牵引系统的 3300V/500A SiC混合模块,该模块采用自主研发的 IGBT芯片和SBD肖特基二极管,依托成熟的工艺平台,具有 零反向恢复特性,可大幅降低开关损耗,提高开关频率,热阻低,热传导性好 ,为用户变流器紧凑型、小型化、高效能设计提供解决方案。

1. 3300V500A SiC混合模块


3300V/500A SiC混合模块参数:


V CES

33 00V

I C

5 00A

V CE(sat)

2.2V @25

V GE (th)

6.2 V

I CES

25mA

I GES-

-110nA

I GES+

100nA

V F

2.1V

表1. 3300V/500A SiC混合模块静态参数


关键参数

测试条件

数值

E ON /mJ

I C = 5 00A, V C C = 18 00V, V GE = ±15V, R G(ON) = R G(OFF) = 4 .5Ω, Cge=100nF, T j =150℃

1100

E OFF /mJ

1 310

E rec /mJ

32

Qrr / μ C

V CC =1800V , I F =500A

d i F /dt=1700A/μs

T j =150℃

50

Irr / A

95

表2. 3300V/500A SiC混合模块动态参数

▲图2. 3300V/500A SiC混合模块瞬态热阻抗曲线


SiC混合模块与Si IGBT模块对比分析


3300V/500A SiC混合模块动态测试波形如下图:

图3. 3300V/500A SiC混合模块动态测试波形

图4. 3300V/500A SiC混合模块与Si IGBT模块反向恢复波形对比

图5. 3300V/500A SiC混合模块与Si IGBT模块开通波形对比


3300V/500A SiC混合模块集成了IGBT芯片与SiC SBD芯片,工作过程中两者交替开通与关断,SiC 混合模块的反向恢复时间极短,将SiC混合模块的反向恢复与IGBT模块反向恢复波形进行对比,如图4所示,SiC SBD芯片反向恢复过程中,几乎不存在反向恢复电流Ir,拖尾电流短,如表2所示,Qrr、Irr、Erec表征SBD的动态参数数值都极低,因此,对于3300V/500A SiC混合模块,反向恢复能量几乎可以忽略。

在相同的测试条件下,将 Si基IGBT模块和SiC混合模块的开关损耗数据进行对比,如表3所示。IGBT模块一次开关所产生的损耗为3280mJ,SiC混合模块一次开关产生的损耗为2090mJ,损耗约降低32.6%。

参数

测试条件







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