当今现代电力电子应用领域,随着高频,高压,高效,小型化的应用需求,Si基功率半导体器件已经不能满足,SiC材料具有击穿电场强度高、热稳定性好、载流子饱和漂移速度高、热传导率高等特点,SiC功率半导体器件将逐成为主流应用的开关器件。
中车时代半导体推出适用于轨道交通牵引系统的
3300V/500A SiC混合模块,该模块采用自主研发的 IGBT芯片和SBD肖特基二极管,依托成熟的工艺平台,具有
零反向恢复特性,可大幅降低开关损耗,提高开关频率,热阻低,热传导性好
,为用户变流器紧凑型、小型化、高效能设计提供解决方案。
图
1. 3300V500A SiC混合模块
V
CES
|
33
00V
|
I
C
|
5
00A
|
V
CE(sat)
|
≤
2.2V @25
℃
|
V
GE
(th)
|
6.2
V
|
I
CES
|
≤
25mA
|
I
GES-
|
-110nA
|
I
GES+
|
100nA
|
V
F
|
2.1V
|
▲
表1. 3300V/500A SiC混合模块静态参数
关键参数
|
测试条件
|
数值
|
E
ON
/mJ
|
I
C
=
5
00A, V
C
C
=
18
00V, V
GE
= ±15V, R
G(ON)
= R
G(OFF)
=
4
.5Ω,
Cge=100nF,
T
j
=150℃
|
1100
|
E
OFF
/mJ
|
1
310
|
E
rec
/mJ
|
32
|
Qrr
/
μ
C
|
V
CC
=1800V
,
I
F
=500A
d
i
F
/dt=1700A/μs
T
j
=150℃
|
50
|
Irr
/
A
|
95
|
▲
表2. 3300V/500A SiC混合模块动态参数
▲图2. 3300V/500A SiC混合模块瞬态热阻抗曲线
3300V/500A SiC混合模块动态测试波形如下图:
▲
图3. 3300V/500A SiC混合模块动态测试波形
▲
图4. 3300V/500A SiC混合模块与Si IGBT模块反向恢复波形对比
▲
图5. 3300V/500A SiC混合模块与Si IGBT模块开通波形对比
3300V/500A SiC混合模块集成了IGBT芯片与SiC SBD芯片,工作过程中两者交替开通与关断,SiC 混合模块的反向恢复时间极短,将SiC混合模块的反向恢复与IGBT模块反向恢复波形进行对比,如图4所示,SiC SBD芯片反向恢复过程中,几乎不存在反向恢复电流Ir,拖尾电流短,如表2所示,Qrr、Irr、Erec表征SBD的动态参数数值都极低,因此,对于3300V/500A SiC混合模块,反向恢复能量几乎可以忽略。
在相同的测试条件下,将
Si基IGBT模块和SiC混合模块的开关损耗数据进行对比,如表3所示。IGBT模块一次开关所产生的损耗为3280mJ,SiC混合模块一次开关产生的损耗为2090mJ,损耗约降低32.6%。