如何更好的解决半导体测试常见问题？

根据美国市场调查机构IC Insights的报告显示，中国的半导体市场内需规模已经达到1035亿美元，占世界半导体市场的36%，中国已成为世界最大的电子产品生产基地，半导体需求量也随之疯涨。随着半导体产业的疯狂发展，对于半导体测试测量技术的需求也越来越高，假如测试测量技术能够与产品生产和工艺发展共同进步，那么将会影响整个产业的平衡发展。

作为半导体测试测量行业的领先企业之一，泰克一直致力于推进半导体测试测量行业的发展，为众多工程师与客户提供质量更好，精度更高的测试测量工具。

近日，泰克推出了一款电子指南， 主要内容为简化MOSFET和MOSCAP器件的特性分析，涉及相关工具和技术的相关问题。（点击文末阅读原文，下载完整电子指南）

本电子指南解答了有关如何更好的进行半导体测量的常见问题，重点解释 DC I-V 和电容 - 电压 (C-V) 测量。 同时还介绍了更加具体的应用，及如何简化最具挑战测 量的的应用要求。

本电子指南主要包括如下内容：

1.半导体特性分析挑战

2.我知道低电平 DC 测量中有误差，但怎样识别和消除这些误差呢？

3.我的 AC 阻抗测量呢？我怎样诊断和校正误差？

4.在 MOSFET 和 MOScaps 上进行 DC 测量时怎样使误差达到最小？

5.在 MOSFETs 和 MOScaps 上进行常见 C-V 测量有哪些最佳惯例？

6. 在我不得不重新配置探头站从DC I-V测量切换到C-V测量时，我开始遇到测量问题， 为什么这么复杂？