第一作者:Yongji Gong
通讯作者:崔屹
第一单位:斯坦福大学(美国)
现代社会,无论是衣食住行,电子元器件都起到重要作用,并将为智能化的社会不断添砖加瓦。而电子器件的微型化趋势,则呈现出不可挡之势。二维材料,这种新兴的原子级超薄片状纳米材料,无疑是电子器件微型化的重要帮手,
p-n
结,原子级超薄晶体管一一实现。
二维材料应用到电子器件至少具有以下两大优势:
1)原子级超薄的特征,有助于实现原子级超薄的集成电路,使电子器件更加微型化。
2)二维材料的半导体特征,有利于其快速可控地集成到硅基集成电路,且不会引起较高的阻抗界面。
图
1. MoS
2
单层晶体管
B.
Radisavljevic, A. Kis et al. Single-layer MoS
2
transistors. Nature
Nanotechnology 2011, 6, 147–150.
问题在于:在同一二维材料上分别实现纯
P
型传导、纯
n
型传导、纯金属态仍然难以实现。而二维材料的二维特征,又使得其无法通过传统的离子注入技术进行载体掺杂,阻碍了其在电子器件中的深入应用。
有鉴于此,斯坦福大学崔屹课题组发展了一种基于溶剂的插层掺杂技术,可以在原子级尺度同时实现二维半导体材料
SnS
2
的
P
型、
n
型以及非简并型掺杂。
图
2. SnS
2
母体材料获得
P
型、
n
型和金属态
SnS
2
二维材料
研究人员以
S
和
SnC
2
O
4
作为前驱体,首先通过
CVD
方法生长得到
n
型
SnS
2
二维半导体材料,最高温度达到
600
℃。反应时间可以调控
SnS
2
片层厚度。然后,将生长了
SnS
2
的
SiO
2
/Si
基底浸入丙酮溶液,丙酮溶液中含有
Cu
或
Co
的前驱盐,在
50
℃反应
30min
,然后润洗、干燥即可。
通过异质原子
Cu
、
Co
的插层掺杂,
CVD
生长的
n
型
SnS
2
可以转变为
p
型半导体(
Cu-SnS
2
)和高导电的金属态(
Co-SnS
2
)。相比于自然生长的
n
型
S
空位
SnS
2
二维半导体材料,
Cu
掺杂的双层
SnS
2
表现出高达约
40 cm
2
V
−
1
s
−
1的孔场效应迁移率。而
Co
掺杂的
SnS
2
则表现出金属性能,其方块电阻可和少层石墨烯相当。
图
3.
电学性能及DFT计算
进一步,通过将这种插层掺杂技术和光刻技术相结合,研究人员得到了无缝的
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