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深圳重磅! 芯片测试会议,报名即将截止!

半导体行业联盟  · 公众号  · 半导体  · 2019-10-17 14:17

正文

10月23日@深圳 |NI 半导体测试研讨会召集令

活动内容介绍

2019年众多新技术如5G、智能汽车、人工智能和物联网,将成为半导体行业增长的驱动引擎。国家及各地方政府也出台相关政策发展半导体产业。同时科创板的落地将加速国内半导体企业上市步伐。在市场、政策、资金等方面的共同作用下,中国半导体产业在2019年将迎来进一步发展。

芯片测试作为半导体行业关键一环,在面对市场变化时,应该如何适应这些新的需求?作为领先自动化测试测量厂商,NI覆盖实验室特征分析、晶圆测试(WAT,CP,晶圆可靠性测试等)、FT测试以及SLT系统级测试的方案,支持RFIC (RF FEM,RF TRxIoT MCU等)混合信号芯片(PMIC, ADC/DAC,MEMS等)LED及光电芯片(如硅光子,VCSEL)系统级封装(SiP)等不同芯片及封装类型,通过高性能PXI平台和业界领先的仪器技术助您提高测试速度、降低测试成本,减少实验室到量产数据关联(correlation)时间。



活动时间&地点

时间2019年10月23日(14:00-17:30,13:15签到)

地点深圳威尼斯睿途酒店 一楼宴会2厅(深圳市华侨城深南大道9026号)



日程安排

时间

议程

13:15-14:00

注册签到

14:00-14:20

主题演讲:测试系统如何跟上半导体行业新变化

14:20-15:00

化繁为简,一个平台解决混合信号芯片(ADDA/PMIC)测试挑战

15:00-15:30

NFC、无线充电预认证测试与调试工具

15:30-16:00

• 茶歇&专家技术咨询

• 实验室及量产IC真实案例展示

16:00-16:40

物联网芯片测试的关键挑战

16:40-17:10

系统级封装(SiP)测试解决方案

17:10

• Q&A  

• 现场抽奖

*具体议程以活动现场为准

 

现场展示
及方案介绍

· 5G FEM
· NFC认证测试及调试解决方案
· 混合信号芯片PMIC/ADC/DAC 测试方案


长按可识别二维码报名啦

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