在线研讨会：EMI干扰测试基础（7月18日）

会议主题： 射频微波测试测量基础 – EMI干扰测试

会议时间： 2017年7月18日 上午 10:00-12:00

演讲公司： 是德科技（中国）有限公司

报名方式： 点底部阅读原文，填写个人信息报名参会。全新议题研讨会，欢迎分享到您朋友圈。

会议介绍：
“ 射频微波测试测量基础 ”系列讲座旨在为射频领域的工程师、技术人员提供专业的测试测量的理论、方法介绍，从而为其工作助力。

了解EMC/EMI的基础知识对于电子产品的设计与生产是至关重要的。本次研讨会关注在EMI干扰测试的基础，希望为用户提供便捷、经济的测试手段，以期降低最终产品所存在的EMI方面的风险。

会议议程：

– EMC 的基础

– EMC/EMI的测试要求

– 便捷、经济的EMI干扰查找与测试

专家介绍：

演讲专家： 张小维

专家职务： 是德科技（中国）有限公司 射频产品经理

专家简介： 毕业于四川大学通信工程系，2005年加入是德科技 （原安捷伦科技）。现任是德科技产品经理，主要负责经济型频谱分析仪的售前支持和产品相关的市场推广工作。

答疑嘉宾： 康建

专家职务： 是德科技（中国）有限公司 应用工程师

专家简介： 现任是德科技高频测量技术中心产品应用工程师。2008年加入安捷伦科技。对射频信号生成，频谱分析技术及其应用有丰富经验。

奖品说明：

预先报名且全程参加座谈的网友将有10人获得微波射频网提供的 《EMC电磁兼容设计与测试案例分析(第2版)》 图书（ 可指定更换同价位的专业图书 ）。本书以分析EMC案例分析为主线，通过案例描述分析，介绍产品设计中的EMC技术，向读者介绍产品设计有关EMC的实用设计技术与诊断技术，减少设计人员在产品的设计与EMC问题诊断中的误区。

会议提示：

本次研讨会将于 2017年7月18日上午10:00 在微波射频网准时举行，您可以提前十分钟 进入在线会议室 。如果您不能准时参加在线研讨会，但希望了解相关信息，您可以预先注册。 研讨会归档后，我们将及时提醒您收看精彩回放，了解问答精选或下载相关资料。

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